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    Portable 복합 X선분석장치 Portable 복합 X선분석장치
  • XRD, XRF 2종류 분석을 동일point에서 분석. 결정구조분석 및 성분분석이 함께 가능
  • 비파괴, 비접촉식 분석방법 (유물이나 문화재 분석 용이)
  • 측정 대상의 크기, 형상에 제한 없음
  • 간단하고 쉽게 분석 가능
  • Portable 복합 X선분석장치
    Portable 복합 X선분석장치
  • XRD, XRF 2종류 분석을 동일point에서 분석. 결정구조분석 및 성분분석이 함께 가능
  • 비파괴, 비접촉식 분석방법 (유물이나 문화재 분석 용이)
  • 측정 대상의 크기, 형상에 제한 없음
  • 간단하고 쉽게 분석 가능
  • Product Features 제품특징

    Portable 복합 X선분석장치

    XRD, XRF 두 가지 분석을 동일 포인트에서 가능
    X-선 회절 (XRD), X-선 형광 (XRF)의 2 종류의 분석을 동일한 포인트에 대해 수행할 수 있어, 두 분석에 의한 정확도 높은 정보를 얻을 수 있습니다.


    비파괴, 비접촉 휴대형 분석기
    비파괴, 비접촉 분석법으로 이동, 반출이 제한되는 유물이나 문화재 등 이른바 "반출 금지 품목"의 것이라도 그 자리에서 X-선 회절 (XRD), X-선 형광 (XRF)의 두 가지 분석이 가능합니다.


    대형, 이형(異形)의 측정 시료에 제한 없이 가능
    측정 대상의 크기, 모양에 제한이 거의 없기 때문에 측정 대상이 대형, 이형(異形)에도 파손이나 재단, 분할하지 않고 그대로 측정 수 있습니다.

    응용분야
    고고학, 철강, 비철금속, 기계, 선박, 용접, 자동차, 요업, 세라믹, 시멘트, 전자재료 자성재료, 안료, 도료, 광석, 토양, 점토, 광물, 건축, 토목 등

    Specifications 제품사양
    Specifications
    ModelDF-01
    측정방식XRD, XRF (가변형)
    검색원소13Al ~ 92U (※XRF 기준)
    시료형상무제한 (※장치에 충돌하지 않을 것)
    분위기대기, He
    측정사이즈φ2.5mm ~ (각도에 따라 다름)
    2θ 측정 범위0 ~ 120 °
    최소 step 각도0.002 °
    콜리메이터φ1mm, φ2mm × 75mm
    X-Ray TargetCr
    X-Ray 정격 출력28W
    X-Ray 정격 전압35kV
    X-Ray 정격 전류1mA
    X-Ray 냉각방식공냉식
    검출기Si-Pin photodiode
    조작부개인용 컴퓨터
    전원 AC100 ~ 240V, 50/60Hz, 5A (MAX)
    외형 치수측정부  : 542 (W) × 342 (D) × 203 (H) mm  (2θ = 0°의 경우)
    제어부  : 427 (W) × 295 (D) × 180 (H) mm
    질량헤드부 : 약 12kg
    회로부 : 약 16kg (케이블, PC 제외)