SmartLab
고출력 고분해능 X-선 회절분석기, SmartLab 모델은 9kW 고출력 X-선을 이용하여
분말/벌크부터 박막, 고분자 시료 등 거의 모든 소재에 대한 회절 분석 대응이 가능하며,
SmartLab Guidance 기능을 통해 완전 자동화된 방식으로 시료를 측정합니다.
Rigaku 분석 노하우를 기반으로 개발된 Guidance 소프트웨어는 시료별 분석법과
측정 조건을 실시간 안내하여 사용자의 숙련도에 관계없이 정확한 측정이 가능합니다.
고분해능 Kα1 X-선, HR 박막 광학계 및 In-Plane 측정 등의 특수 기능까지 지원하는
최상위 모델입니다.
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고출력 X-선 발생장치
범용 대비 약 5배 이상의 고출력 엑스선으로 고속/고감도 측정
미량 시료 및 극박막 시료 대응에 효과적이며, 분석 정확도 향상
회절 강도 저하 우려가 있는 In-situ 실험의 분석 실효성 극대화
반영구적 사용으로 운용 효율 증대 및 비용 절감
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시료 수평형 대반경 고니오미터
세계 최초로 고분해능 박막 XRD에 시료 수평형 고니오미터 장착
시료 추락 및 응력 작용의 우려가 없으며 액상 분석에도 활용
현존 XRD 최대 반경인 300mm 채택
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CBO (Cross Beam Optics) 기술
Rigaku 특허 기술인 CBO 광학계를 통해 분석 목적에 따라 입사 X-선빔을 간단히 선택
광학계 탈부착 및 이동 없이 다양한 입사빔을 사용자가 선택하여 다종의 분석을 신속히 대응
Bragg-Brentano 발산빔, 평행빔, SAXS빔, K-alpha 발산빔, 집중빔, Micro빔 등 다양한 어플리케이션에 최적빔 제공
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In-Plane 측정
별도의 In-Plane 스캔 축을 지원하여, 시료를 수직으로 세워 측정하는 유사 측정이 아닌 실제 In-Plane 결정면 측정
In-Plane 측정으로 시료 표면에 수직한 결정면에 대한 회절 정보를 직접 얻을 수 있으며, 특히 박막 표면구조 평가에 효과적
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응용 분야
분말 회절분석 : 정성, 정량, 결정화도, 격자상수, 결정립 크기, 격자변형 평가, Rietveld, 구조해석 등
고분해능 박막 응용 : In-plane, XRR, HR-Rocking curve, 박막두께, 밀도, 조성 분석, 방위 및 배향, 결정성 평가 등
소각산란측정 : Particle & Pore size 분포 해석 (나노분말, 박막)
| Specification | |
| X-ray generator | 9kW (Rotating anode) |
| X-ray target : Cu (other targets available) | |
| Goniometer | Scanning mode : Theta-theta vertical type |
| Goniometer radius : 300mm | |
| Min. step : 0.0001° | |
| Optic system | Automatic variable slit |
| Automatic alignment | |
| Detector | D/teX Ultra 250 (1D & 0D) |
| HyPix-3000 (2D & 1D, 0D) | |
