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1) 전기적 특성 분석 방법인 EBIC, SEEC 등을 TEM에서 사용할 수 있도록 하는 장치
2) Acquisition 시스템은 외부스캔인터페이스(ESS)를 가진 모든 TEM과 호환
3) 모든 Amplification과 Acquisition을 소프트웨어로 컨트롤
4) 각 시그널은 정량적인 전류값을 표시
TEM Electrical Analysis EA system for STEM
1) 전기적 특성 분석 방법인 EBIC, SEEC 등을 TEM에서 사용할 수 있도록 하는 장치
2) Acquisition 시스템은 외부스캔인터페이스(ESS)를 가진 모든 TEM과 호환
3) 모든 Amplification과 Acquisition을 소프트웨어로 컨트롤
4) 각 시그널은 정량적인 전류값을 표시
TEM Electrical Analysis
EA system for STEM
Product Features
제품특징
EA system for STEM
기존 나노프로빙과 결합하여 사용 가능하던 EBIC, EBAC(SEEC), EBIRCh, RCI 등의 전기적 특성 분석 기법 중 일부를 STEM에서 사용할 수 있도록 하는 장치 입니다.
외부스캔인터페이스(ESS)를 가진 모든 TEM과 호환되며, 거의 모든 종류의 In-situ Biasing TEM Holder와 호환 가능합니다.
소프트웨어를 통해 각 포트 및 전극에 원하는 방법으로 전기 실험을 할 수 있으며, -5V에서 5V 사이의 간단한 I-V 커브도 작동이 가능합니다.
샘플 내부의 P-N Junction과 Depletion region등을 시각화하여 보여줄 수 있습니다.
