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액체 시료 분석을 위한 하면 조사 방식 XRF
X-ray generator : 4kW (60kV, 150mA)
Ultra thin Be window (30μm)
Micro mapping (r-θ stage, CCD 장착)
F-PC 심선 자동세척기능 (특허)
Automatic pressure control 기능 장착
순차 분석형 형광 X-선 분석장치(하면조사형) ZSX Primus IV𝒾
액체 시료 분석을 위한 하면 조사 방식 XRF
X-ray generator : 4kW (60kV, 150mA)
Ultra thin Be window (30μm)
Micro mapping (r-θ stage, CCD 장착)
F-PC 심선 자동세척기능 (특허)
Automatic pressure control 기능 장착
순차 분석형 형광 X-선 분석장치(하면조사형)
ZSX Primus IV𝒾
Product Features
제품특징
ZSX Primus IV𝒾
ZSX Primus IVi는, 액체 분석에 최적인 하면 조사형의 형광 X-선 분석장치입니다.
48 X-Y 시료 자동교환기를 채택 , 종전 장비에 비하여 본체 설치 면적 약 50% 감소시킨 장비 입니다.
또 장비의 뒷면의 일상 수리공간이 필요 없으며 CCD 카메라를 장착, 화면상에서 분석 위치를 지정, 성분의 분포도 등을 측정할 수 있습니다.
소프트웨어는, 초보자라도 고도의 분석을 간단하게 실시할 수 있도록 Flow bar형식의 기능으로 구성되어 있습니다.
신 분광 결정의 개발로 B, C 등 초경원소의 고감도화로 종래 분광 결정대비 2배 이상의 강도증가를 실현했습니다.
- 100μm의 Mapping 분해능으로, PCB 기판상의 배선이나 편석 등 시료의 미소부위 분석이 가능합니다.
- 냉각수량 저감(종래의1/2이하), PR가스량 저감(종래의1/10).
- r-θ구동의 시료 스테이지 채용으로 측정 포인트에 의한 X선 강도 변화가 생기지 않습니다.
- 액상 분석용을 위한 He purge 기능및 He gas 소모량의 최소화한 장비 구조
Specifications
제품사양
| Specifications | ||
| X-ray tube | end window type Rh target 4kW or 3kW | |
| Type of X-ray optic | Tube Below type | |
| X-ray generator | High frequency inverter type 4kW, 60kV-150mA | |
| Sample size | Φ51mm x 40mm (H) | |
| Primary beam filter | 4 filter (Al, Al-2, Ni, Ni-2) | |
| Slit | Standard, high, and course resolutions | |
| Diaphragm | 6 position Automatic exchanger 35, 30, 20, 10, 1 and 0.5 mm | |
| Crystal exchanger | 10 position automatic exchanger | |
| Vacuum systme | Two pump system with powder trap | |
| Detector | Heavy element : SC Light element : F-PC | |
| Sample changer | Max 48 position | |
| Function | Automatic Pressure Controller | |
| Mapping system | ||
| Attenuator In-out automatic exchanger (1/10) | ||
