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검출한계 : 0.3ppm의 극미량 S 분석기능
Vacuum 분위기 측정으로 Helium gas가 필요없이 S 분석 가능
파장 분산형 방식(WDXRF)으로 ISO20884, ASTM D2622, JIS K2541-7 대응
파장 분산형 저농도 S 전용 분석기 Micro Z
검출한계 : 0.3ppm의 극미량 S 분석기능
Vacuum 분위기 측정으로 Helium gas가 필요없이 S 분석 가능
파장 분산형 방식(WDXRF)으로 ISO20884, ASTM D2622, JIS K2541-7 대응
파장 분산형 저농도 S 전용 분석기
Micro Z
Product Features
제품특징
Micro Z
Rigaku에서 새롭게 출시한 WDXRF방식의 oil중 S 전용 분석장비입니다.
기존의 He gas를 사용하여 분석하는 장비와 달리 진공 분위기에서도 안정적으로 액상으로 분석할 수 있도록 구성되었습니다.
- Doubly curved crystal Optic사용으로 고감도 분석
- He gas 가 필요 없는 Vacuum 분위기 분석
- ISO20884, ASTM D2622 and JIS K2541-7 (WD XRF 분석 규정)
- 40W X-ray power
Specifications
제품사양
| Specifications | ||
| X- ray power | 40W | |
| X-ray tube | End-Window type Cr target | |
| Atmosphere | Vacuum | |
| Optics | Fixed optics | |
| Analyzing Crystal | Doubly curved crystal RX-9 | |
| Detector | S-PC | |
| System controller | Integrated computer, Display panel, Touch key | |
| Main power | AC200V ~ 240V | |
