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제품 및 솔루션

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    고속 원자탐침현미경(HS-AFM) MS-NEX
  • High Speed Atomic Force Microscope(AFM)은 나노 크기의 샘플을 공기나 용액 상태에서 고해상도로 시각화할 수 있는 현미경입니다.
  • MS-NEX는 SS-NEX(샘플 스캔형 고속 AFM*) 모델을 기반으로 하지만 훨씬 간편하고 손쉬운 핸들링으로 필요한 기능만 선택할 수 있는 모듈 시스템이 특징입니다.
  • Module : High Speed scanning, Wide range observation, Liquid perfusion, Temperature control, Illumination
  • High Speed scanning module 최대 50 fps(frames per second)까지 지원
  • 다양한 유형의 모듈을 연구 및 예산에 맞게 선택할 수 있습니다.
  • 고속 원자탐침현미경(HS-AFM)
    MS-NEX
  • High Speed Atomic Force Microscope(AFM)은 나노 크기의 샘플을 공기나 용액 상태에서 고해상도로 시각화할 수 있는 현미경입니다.
  • MS-NEX는 SS-NEX(샘플 스캔형 고속 AFM*) 모델을 기반으로 하지만 훨씬 간편하고 손쉬운 핸들링으로 필요한 기능만 선택할 수 있는 모듈 시스템이 특징입니다.
  • Module : High Speed scanning, Wide range observation, Liquid perfusion, Temperature control, Illumination
  • High Speed scanning module 최대 50 fps(frames per second)까지 지원
  • 다양한 유형의 모듈을 연구 및 예산에 맞게 선택할 수 있습니다.
  • Product Features 제품특징

    MS-NEX

    모듈 시스템을 적용한 MS-NEX는 사용자의 필요에 맞게 다양한 기능 모듈을 쉽게 선택하고 커스터마이징 할 수 있습니다.
    모듈은 지금 추가할 수도 있고 나중에 필요할 때 추가할 수도 있으며, 앞으로 새로 개발된 기능 모듈도 라인업에 포함될 예정입니다.
    MS-NEX에 통합된 Guide system을 이용하여, 초보자도 손쉽게 MS-NEX를 조작하는 것이 가능합니다.
    가이드 시스템은 샘플 준비부터 샘플 관찰까지 모든 과정을 지원합니다.
    High speed scanning module을 사용하면 최대 50 fps(frames per second)의 속도로 이미징이 가능하며,
    in-situ로 미세한 부분의 변화를 영상으로 관찰할 수 있습니다.

    Specifications 제품사양
    Specifications
    Scan Speed1 s / frame (1 frame / sec)
    (Scan range: XY: 500 nm × 500 nm, resolution: 200 px × 200 px)
    Scan RangeXY: 4 µm × 4 µm, Z: 0.7 µm
    High Speed Module(optional)Scan speed: 50 ms / frame (20 frames / sec)
    Scan range: XY: 0.7 µm x 0.7 µm, Z: 0.4 µm
    Wide Range Observation Module(optional)Scan speed: 10 s / frame (0.1 frames / sec)
    Scan range: XY: 30 µm x 30 µm, Z: 0.7 µm
    Image ResolutionXY: 500 px × 500 px
    Observation EnvironmentIn air / In liquid.
    The observation solution can be added during AFM observation.
    Observation Solution Volume150 μL
    Sample SizeΦ1.5 mm
    Attached Cantilever10 mm (L), 2 mm (W)
    Cantilever amplitude detection methodSample and hold method
    Resonance Frequency of CantileverSine wave output for resonance: 10 kHz〜1.0 MHz
    Probe Sensing MethodOptical lever method
    Scanning MethodSample scan method
    Scanner Vibration Control MethodActive dumping, Counter balance
    Control systemPID control, Dynamic PID control
    Measurement ModeAC mode (Topography image, Error image, Phase image), and Contact mode
    Piezo Driver BandwidthDC〜100 kHz(-3 dB or more: No load)
    Difference AmplifierNumber of input channels: 2 channels, Bessel low-pass filter (Fourth-order)
    Bus BridgePCIExpress (7 slots)
    Equipped with AD board (12 bit), DA board (12 bit), DIO board
    Digital OscilloscopeNumber of input channels: 2 channels, Frequency band: 25 MHz
    Laser Diode Current ControllerControllable range: 0〜±100 mA, Current limit setting range: 0〜100 mA
    Noise: Less than 0.2 mA
    Laser670 nm (R/NIR). Selectable with infra-red light when ordering (IR option)
    Motor Controller BoxMotor control by PC software and manual control
    PCOS: Windows10, CPU: Intel Core i5 8500 3.0 GHz, HDD: 500 GB
    Memory: 8 GB, Monitor: 22 inch LCD color monitor x 2
    SoftwareVideo acquisition (Possible data collection, data storage)
    Control functions (Scan control, automatic approach control)
    Frequency characteristics analysis of cantilevers
    Number of frames: Save 1000 frames per video file
    File storage method: Formats can be converted to a general-purpose video file format
    (Including AVI format and MPEG format)
    Anti-vibration TableAir spring method. Height control valves keep the surface table level automatically.
    Natural frequency : 1.5Hz, Maximum loading weight : 50kg
    Rack60 cm(L) x 60 cm(W) x 100 cm(H)
    Video 관련영상