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1) Captures everything : 데드타임이 없는 디자인으로 샘플에서 얻을 수 있는 모든 정보를 수집
2) Fast : 높은 프레임 및 카운트 속도로 실험 시간을 크게 줄이고 장비 처리량 증가
3) Easy : API를 통해 모든 최신 데이터 파이프라인이나 전자현미경들과 손쉽게 통합이 가능
EELS/4D STEM detector ELA
1) Captures everything : 데드타임이 없는 디자인으로 샘플에서 얻을 수 있는 모든 정보를 수집
2) Fast : 높은 프레임 및 카운트 속도로 실험 시간을 크게 줄이고 장비 처리량 증가
3) Easy : API를 통해 모든 최신 데이터 파이프라인이나 전자현미경들과 손쉽게 통합이 가능
EELS/4D STEM detector
ELA
Product Features
제품특징
ELA
DECTRIS ELA® electron-counting 디텍터는 디텍터 노이즈, 프레임 속도, 다이나믹 레인지 측면에서 동급 최고의 성능을 제공합니다. 100pA가 훨씬 넘는 프로브 전류를 처리할 수 있으며, 약한 반사와 강한 반사를 동시에 포착하여 고급 회절 및 이미징 연구를 가능하게 합니다. 또한, 한 번에 빠른 원소 매핑을 가능하게 하는데, 이는 빔에 민감한 재료를 다룰 때 특히 중요합니다.
ELA 하이브리드 픽셀 검출기는 전자 에너지 손실 분광법(EELS) 및 4차원 주사 투과 전자 현미경(4D STEM)에 특별히 최적화되었습니다.
Specifications
제품사양
| Specification | ELA | |
| Number of pixels (W x H) | 1,028 x 512 | |
| Active area (W x H) [mm²] | 77.1 x 38.4 | |
| Pixel size (W x H) [µm²] | 75 x 75 | |
| Sensor material | Silicon (Si) | |
| Energy range [keV] | 30 - 300 | |
| Frame rate (max.) [Hz] | 2,250 (16-bit); 4,500 (8-bit) | |
| Count rate (max.) [el/s/pixel] | 9,000 (16-bit); 18,000 (8-bit) | |
| Detective Quantum Efficiency, DQE(0) | 107 | |
| Detector mounting | 0.81 at 100 kV, 0.85 at 200 kV |
