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    시료 수평형 다목적 X-선 회절장치 Ultima IV
  • 3kW 범용 X-선 발생장치
  • 시료 수평형 고니오미터
  • 분말/벌크, 박막, 고분자 시료 분석 대응
  • Dual 검출기 장착 지원
  • In-situ 온도실험 응용장치 지원
  • In-Plane 측정 지원
  • 시료 수평형 다목적 X-선 회절장치
    Ultima IV
  • 3kW 범용 X-선 발생장치
  • 시료 수평형 고니오미터
  • 분말/벌크, 박막, 고분자 시료 분석 대응
  • Dual 검출기 장착 지원
  • In-situ 온도실험 응용장치 지원
  • In-Plane 측정 지원
  • Product Features 제품특징

    Ultima IV

    시료 수평형 다목적 X-선 회절분석기, Ultima IV 모델은 다양한 광학계 및 응용장치를 통해
    분말/벌크부터 박막, 고분자 시료 등 거의 모든 소재에 대한 회절 분석 대응이 가능하며,
    광학계 정렬 및 시료 높이 조절 등을 자동화 하여 시료를 측정합니다.
    듀얼 검출기 동시 장착이 가능하며, In-situ 고온실험 응용장치와 CBO 광학계 등의
    다양한 응용장치와 광학계를 지원하며, In-Plane 측정 등 특수 Application 지원도 가능합니다.
    분말, 세라믹, 촉매, 제약 등 공업재료의 연구 및 품질 관리부터 유기박막, 자성재, 반도체 박막 등의
    첨단재료의 연구개발까지 폭넓게 지원합니다.

    • 기능확장(Build-up) 방식 디자인

      CBO기술, Automatic alignment 및 모듈디자인으로 응용목적에 적합한 측정모드로 빠르고 간단하게 변환 가능

      분말회절, 박막회절, 반사율측정, In-plane측정, 소각산란측정(SAXS) 등 다양한 응용분야 대응

      XRD 분석의 모든 응용분야를 하나의 장치에서 분석 가능

    • CBO (Cross Beam Optics)기술

      Rigaku 특허 기술인 CBO 광학계를 통해 분석 목적에 따라 입사 X-선빔을 간단히 선택

      광학계 탈부착 및 이동 없이 다양한 입사빔을 사용자가 선택하여 다종의 분석을 신속히 대응

      Bragg-Brentano 발산빔, 평행빔, SAXS빔, Micro빔 등 다양한 어플리케이션에 최적빔 제공

    • 다채널 반도체 검출기

      다채널 반도체 검출기 D/teX Ultra 장착으로 고속/고감도 측정 가능

      다채널용 단색화 광학계(Monochromator) 장착 가능

      Dual detector arm 구성 가능 (Scintillation Counter + D/teX Ultra)

    • 응용 분야

      분말 회절분석 : 정성, 정량, 결정화도, 격자상수, 결정립 크기, 격자변형 평가, Rietveld, 구조해석 등

      고분해능 박막 응용 : In-plane, XRR(X-Ray Reflectivity) 등

      소각산란측정 : Particle & Pore size 분포 해석 (나노분말, 박막)

    Specifications 제품사양
    Specification
    X-ray generator3kW (Sealed tube)
    X-ray tube : Cu (other targets available)
    GoniometerScanning mode : Theta-theta vertical type
    Goniometer radius : 300mm
    Min. step : 0.0001°
    Optic systemAutomatic variable slit or Fixed slit
    Automatic alignment
    DetectorScintillation counter (0D)
    D/teX Ultra 2 (1D)
    Dual detector arm
    Application 어플리케이션
    Accessories 악세사리
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