Ultima IV
시료 수평형 다목적 X-선 회절분석기, Ultima IV 모델은 다양한 광학계 및 응용장치를 통해
분말/벌크부터 박막, 고분자 시료 등 거의 모든 소재에 대한 회절 분석 대응이 가능하며,
광학계 정렬 및 시료 높이 조절 등을 자동화 하여 시료를 측정합니다.
듀얼 검출기 동시 장착이 가능하며, In-situ 고온실험 응용장치와 CBO 광학계 등의
다양한 응용장치와 광학계를 지원하며, In-Plane 측정 등 특수 Application 지원도 가능합니다.
분말, 세라믹, 촉매, 제약 등 공업재료의 연구 및 품질 관리부터 유기박막, 자성재, 반도체 박막 등의
첨단재료의 연구개발까지 폭넓게 지원합니다.
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기능확장(Build-up) 방식 디자인
CBO기술, Automatic alignment 및 모듈디자인으로 응용목적에 적합한 측정모드로 빠르고 간단하게 변환 가능
분말회절, 박막회절, 반사율측정, In-plane측정, 소각산란측정(SAXS) 등 다양한 응용분야 대응
XRD 분석의 모든 응용분야를 하나의 장치에서 분석 가능
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CBO (Cross Beam Optics)기술
Rigaku 특허 기술인 CBO 광학계를 통해 분석 목적에 따라 입사 X-선빔을 간단히 선택
광학계 탈부착 및 이동 없이 다양한 입사빔을 사용자가 선택하여 다종의 분석을 신속히 대응
Bragg-Brentano 발산빔, 평행빔, SAXS빔, Micro빔 등 다양한 어플리케이션에 최적빔 제공
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다채널 반도체 검출기
다채널 반도체 검출기 D/teX Ultra 장착으로 고속/고감도 측정 가능
다채널용 단색화 광학계(Monochromator) 장착 가능
Dual detector arm 구성 가능 (Scintillation Counter + D/teX Ultra)
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응용 분야
분말 회절분석 : 정성, 정량, 결정화도, 격자상수, 결정립 크기, 격자변형 평가, Rietveld, 구조해석 등
고분해능 박막 응용 : In-plane, XRR(X-Ray Reflectivity) 등
소각산란측정 : Particle & Pore size 분포 해석 (나노분말, 박막)
| Specification | |
| X-ray generator | 3kW (Sealed tube) |
| X-ray tube : Cu (other targets available) | |
| Goniometer | Scanning mode : Theta-theta vertical type |
| Goniometer radius : 300mm | |
| Min. step : 0.0001° | |
| Optic system | Automatic variable slit or Fixed slit |
| Automatic alignment | |
| Detector | Scintillation counter (0D) |
| D/teX Ultra 2 (1D) | |
| Dual detector arm | |
